赛默飞世尔科技公司推出扫描电子显微镜

赛默飞世尔科技公司近日发布了Thermo Scientific Phenom Pharos G2桌面场发射枪-扫描电子显微镜(FEG-SEM)，旨在提高先进纳米材料研究能力。新仪器使客户可以使用桌面显微镜以高分辨率直观地表征各种纳米颗粒的大小、形状和化学成分。

使用天工异彩Pharos G2，材料科学家可以在20千伏(kV)下以2.0纳米(nm)分辨率分辨金属、矿物和陶瓷等材料中的纳米材料形态，为实现制造业、电子、清洁能源和其他应用的进步铺平道路。研究人员还可以在低至1kv的能量水平下对柔软的、光束敏感的或绝缘的样品进行成像，从而获得聚合物和多层有机薄膜的高分辨率视图，而不会破坏或掩盖它们的纳米级特征。

赛默飞世尔材料科学副总裁兼总经理罗斯·李(Rosy Lee)说:“天鸿Pharos G2通过提供高分辨率和宽加速电压范围来推进纳米材料研究，所有这些都在一个可以在实验室或办公室使用的桌面系统中完成。”“从更先进的纺织品和食品包装到改进的太阳能和风能，这种易于使用的仪器支持广泛行业的快速创新。”

天工异品Pharos G2操作直观，生产效率高，是高容量工业和学术实验室的多功能仪器。好处包括:

• 高分辨率成像:用户可以获得2.0 nm的高分辨率图像，而以前的版本是2.5 nm。
• 与之前的模型相比，扩大了能量范围:1-20 kV的更宽加速电压范围提供了对各种样品成像的多功能性。
• 快速的图像生成时间:图像可以在30秒内获得，具有较高的样本吞吐量。
• 易于使用:一个直观的用户界面，在宽屏，24英寸显示器预设简化使用和减少人为错误时，组织工作流程。
• 快速安装:安装速度比以前的版本快40%，加快了结果的时间。
• 增强可靠性:集成电源和坚固的部件设计，以确保数据的可重复性，并减少对生产力的干扰。