正交和补充纳米表征技术

我怎么能信任我的数据吗?这是一个共同关心的许多研究人员使用粒子测量仪器。以任何方式影响的数据测量技术,或者由用户在样品制备或通过分析参数使用吗?要回答这个问题,我们需要考虑使用独立和正交测量技术以提供信心和测量验证。

两个这样的互补和动态光散射技术是纳米粒子跟踪分析。这technical note将描述技术和互补的数据产生以及探索其独特的功能,结合使用时,提供最全面的测量参数提供给那些感兴趣的纳米材料的表征。