新焦点电荷补偿模式蔡司场发射扫描电子显微镜可以提高图像质量

与国家显微成像研究中心(NCMIR)加州大学圣地亚哥蔡司释放一个新的焦点电荷补偿模块块脸成像蔡司GeminiSEM和3视图从Gatan®, Inc .焦电荷补偿扩展多功能性和大大提高数据质量没有延长收购时间,使简单的成像最charge-prone样本。Resin-embedded组织和细胞成像不充电构件,在像素停留时间减少。减少电子束曝光时间不仅可以确保快速采集率,但也防范样品损坏,这是获得可靠的和可再生的3 d数据的关键。教授马克·h·Ellisman NCMIR主任说,“焦电荷补偿块注入新生命将面临扫描电子显微镜通过允许高质量成像之前棘手的标本,包括遗产与传统电子显微镜样品准备的污点。”

防止充电效果

这个扩展的3视图从Gatan®系统,公司可以消除样品收费。注气系统组成的一个微小的毛细针正上方的样本。氮是通过这个针直接引导到块面表面保持在高真空室时。这就消除了充电不损坏画质。针可收放起落架在切割周期中自动工作流是不间断和维护收购率高。

在一天之内生产成千上万的连续图像

3视图®系统包括一个超微切片机直接集成到真空室的蔡司σ和蔡司GeminiSEM场发射扫描电子显微镜。它使自动化系列嵌入式样本块面成像(如细胞或组织)一片厚度15纳米。样品不断减少和成像和纳米级分辨率的三维渲染样品可以重建。