业版
为特定行业量身定制的解决方案
行业版本的Zetium光谱仪分光计有专门的专业模板,并为特定行业硬件和软件配置。为快速调试和校准,设计这些行业版专有,高质量、可追踪的应用程序设置模块,包括设置标准和样品制备指令。还包括为典型的工业应用和定制的应用程序模板国际标准遵从性。配上这种方法的行业包括水泥、矿物、金属、石化和聚合物和塑料。终极版配置满足最苛刻的要求,而不论他们处在什么行业。
专门的行业版本Zetium光谱仪分光计为特定行业提供:水泥,矿物质,金属,石油化工产品和聚合物和塑料。的终极版配置满足最苛刻的要求,而不论他们处在什么行业。Zetium平台的模块化设计允许通过各种包面向任务的性能增强。
概述
元素的创新
不断发展,改善客户体验
科学合理,benefits-driven创新实现SumXcore技术-集成WDXRF和EDXRF纳入Zetium平台提供最终的灵活性、性能和多功能性,有望彻底改变世界的光谱仪。
元素的情报
先进的分析硬件需要先进的分析软件和专业知识
我们著名的量子一步SuperQ软件新技术的组合能够访问和分析的可能性。主演的虚拟分析,它能增强用户体验在设置和操作系统。
基本支持
无论位置透明和可靠的支持
从服务到专业知识,培训实验室分析用户支持从各个角度。全球网络的经验丰富的工程师,加上行业最大的应用程序池科学家莫尔文Panalytical总是帮助你满足你的分析要求。
基本技术
60年的经验和传统,理想的起点
Zetium是未来一代WDXRF光谱仪非常成功,包括Axios、迷幻和PW2400。这种传统的成熟的技术已被细化和提出Zetium平台提供了基础。
聪明的经理
释放你的数据的潜力
直到现在,仪表数据常常被困在手工记录、电子表格或特定站点服务器。通过连接Zetium我们聪明的经理,不断分析仪器数据在云端,你可以发挥其全部潜力。这只是我们的一个数字莫尔文Panalytical的部分解决方案连接世界。
特性
提高分析性能
- 从1升级到2.4,3或4千瓦增强敏感性
- 范围的x射线管阳极材料Rh、铬、钼和非盟为特定应用程序的性能
- 双探测器为过渡增强灵敏度和更广泛的动态范围金属分析
- HiPer闪烁探测器提高动态范围的重元素(线性3.5兆赫)适合高精度分析的Nb和Mo钢
优越的用户体验
- 简单,直观的软件与虚拟分析师
- 应用程序设置模块和软件的全套解决方案
- 行业领先的standardless Omnian光谱仪分析——分析未知或者当标准是不可用的
- 多小点分析与映射
- 可编程的准直器面具6毫米之间的样本大小和37毫米
最大限度样品处理量
- SumXcore技术,测量时间减少了50%的核心
- 从1升级到2.4,3或4千瓦更快的分析时间
- 赫比渠道同步测量的光元素
- 连续的和直接的示例加载大大降低仪器的开销
- 高容量换样器床(209)对高吞吐量的应用程序
- 样改变条形码扫描器选项允许快速、无错误的示例加载和数据输入
鲁棒性
- 除尘设备最大限度地减少污染和仪器正常运行时间最大化
- CHI-BLUE x射线管窗口涂层增加x射线管的耐用性和抗腐蚀
- 样本类型识别(固体和液体)
- 条形码阅读器错误示例条目
低成本的所有权
- 节省空间的,紧凑的设计
- 小额气闸设计——样本的快速循环真空,液体或低他消耗分析
- 快捷服务模块意味着更快的仪器可服务性和最小停机时间
- 专用冷水机组从实验室中除去热量,避免过劳实验室空调设施
- 包装节约成本的解决方案
加强数据安全
- 的加强数据安全选择SuperQ软件包可以帮助你加强你的审计跟踪,减少错误的风险,和证明你的光谱仪仪器按预期工作。
- 先进功能包括用户管理、操作日志、数据保护和应用程序状态的任务。
配件
标准(参考资料)
样品制备
软件
服务
选项
系统增强包
- 面向任务的性能增强
- 高吞吐量,增加样品改变能力和仪器最低开销
- 防止尘土飞扬的样品和液体泄漏
- 错误示例介绍条形码扫描器
- 变量包括小点分析型处理
SumXcore
教育的核心
Zetium平台体现SumXcore技术,集成WDXRF而已。这种可能性所说的独特组合在一个类自己的分析能力,速度和灵活性的任务。
结合WD / ED光谱仪的好处
- 最大的任务与同步SumXcore测量灵活性和增强性能
- 好处通过大幅减少测量乘以50%,或提高精度
- 高分辨率SDD探测器,与变量信号衰减,最佳性能的灵活性
- 元素分析Na -点,ppm - 100%的浓度
- 跟踪意想不到的元素会影响流程元素分析在不增加测量时间
- 增强您的QA / QC计划质量和增加信心和两个独立的为每一个测量结果
与虚拟分析师SuperQ 6
虚拟分析师需要信息,还可以从许多别的来源如标准组成,实际测量数据和用户数据目标计算的响应系统,设置并完成方法。
- 访问Zetium平台的力量
- 简单和直观的面向任务的流程
- 先进的矩阵修正改进从金属聚合物提高数据的准确性
- 虚拟分析师——几十年的专家技术的体现。
小点分析与映射
小点分析元素分布映射是一个理想的工具材料研究和生产过程的故障诊断。不再局限于研究设施,这种技术现在可以任何你需要它。
- 理想的材料研究和生产过程的故障诊断
- 实际分析*
- 短背的高灵敏度的光路
- 使用ED核心快,每点同时多元素分析
- 500年µm光斑尺寸的应用),100µm步长
- 定量、定性及standardless Omnian分析
- 简单的样品制备
