CRAIC™技术设计、构建和支持收集微观样本的光谱和图像的显微分光计深紫外到近红外光谱。
UV-vis-NIR显微分光计
UV-Visible-NIR显微分光光度计:乐器设计测量UV-visible-NIR微观样本的光谱透射率,反射率,偏振,荧光和其他类型的发光。用专门的软件,它们可以用来测量薄膜厚度、比色法等。以下有更多信息的链接:
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紫外和近红外显微镜
UV-Vis-NIR显微镜:CRAIC技术UV-Vis-NIR显微镜系统允许用户与常见的显微镜图片不能看到物品,只有封面的可见范围。这个功能是非常有用的在不同领域如药物发现的一种蛋白质晶体分析污染控制半导体键合硅设备内部电路。以下链接包含更多的信息:
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岩相学
镜质体反射率、计数和荧光的煤炭、焦炭和石油烃源岩
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玻璃折射率的测量
| 玻璃折射率的测量:rIQ™是聪明的法医分析玻璃和玻璃样的材料的折射率碎片。 |  |
更多的创新
通用C-Mount
| 通用C-Mount适应呃:设计一个适配器连接照相机和分光光度计显微镜photoport所以他们齐焦的parcentral目镜。 |  |
激光照明
| 激光照明的显微镜添加激光照明CRAIC技术显微镜或快速轻松地显微分光计。对齐机制能够使用紫外、可见光和近红外激光,可以应用于许多领域。 |  |
UV-Visible-NIR极化
| UV-visible-NIR偏光显微镜:传输和反射偏振器和分析器提供UV-visible-NIR光谱范围。设计用于CRAIC技术显微镜和显微分光计,他们被安置在旋转和固定的持有者。 |  |
光谱分析标准
| 显微分光光度计标准:标准设计用于显微分光计和追踪到标准的参考资料。 |  |
薄膜厚度测量
| 膜厚度测量:先进microspot薄膜厚度测量CRAIC FilmPro™软件和CRAIC显微分光计。 |  |
仪表自动化
自动化包:自动化显微光谱和图像分析,包括三维映射,外加CRAIC技术自动化解决方案。理想的工业应用,需要重复测量。 |
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我们邀请你发现我们的革命性的技术,包括一系列显微分光光度计,UV-Vis-NIR显微镜、拉曼显微分光计,NIST可追踪的标准,配件和软件解决方案。我们进一步邀请你体验我们杰出的客户服务和技术支持。
*功能和规格取决于仪器的配置。规格可以不经通知自行调整。
UV-visible-NIR显微镜,UV-visible-NIR显微分光计和拉曼显微分光计通用实验室仪器。他们没有被清除或批准的欧洲试管指令,美国食品和药物管理局或其他机构的诊断,临床或其他医学使用。
