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SEM成像和EDS元素分析

尽管扫描电子显微镜(SEM)取得了巨大的进步,它可以被新用户认为是一个复杂的技术。样品制备、比对、拥有成本和困难分析技术防止广泛采用。我们着手解决这些挑战,使一个真正可以扫描电镜不牺牲灵活性。我们的目标是使显微镜轻松和愉快的经历,你不应该打架显微镜获得高质量的数据。结果是热科学Axia ChemiSEM扫描电子显微镜,系统获得能谱数据不再是一件苦差事。EDS不再只是一个afterthought-chemical数据和成像已经成为一个。

SEM EDS分析

轴向ChemiSEM是与传统的扫描电镜,它总是收集EDS在后台数据。它使用独特的算法来处理SEM和EDS信号同时,允许它显示样品的形态和定量元素组成在一起,在真正的时间。它不断地在后台流程EDS数据,实时更新元素数据给你,因为它是获得。元素中发现,你的样品可以进行切换,允许您孤立感兴趣的领域。

轴向ChemiSEM特性优越的用户体验增强自动化,比如alignment-free SmartAlign技术操作,新开发的自动功能,和生活量化EDS映射。这种不间断处理使分析速度的两倍,与传统方法相比。轴向ChemiSEM扫描电子显微镜了SEM / EDS分析触手可及的一个更广泛的科学观众,加快工作流程,节省时间培训。

关键特性

实时定量元素映射

更新你的分析和完全集成的工作流,尖端科学ChemiSEM热技术,提供了描述在一半的时间。

很容易开始

集成用户指导、现场实时的成像和alignment-free操作结合在这个工具允许你专注于数据收集。

灵活的示例加载

弹性阶段提供样品与x - y运动10公斤,和简单的门完全加载的大,尴尬的样本——同时保留一个非常快的泵停机时间。

优秀的成像性能

轻松处理大范围的应用程序,包括绝缘样品低真空吸尘器的操作和先进的波束扫描,以确保高保真成像

各种应用软件

处理高级应用程序与高级系统自动选择,如热科学地图™软件和定制工作流开发与热科学AutoScript™软件。

简单的维护

源交流很容易,可以完成任何用户,而简单的设计转化为高正常运行时间和快速服务时需要注意。


规范

样式表的产品规格表

标准
  • 电动可伸缩的后向散射探测器
  • TrueSight EDS探测器
  • Nav-Cam相机光学相机样品导航
  • 手册的用户界面
  • 红外室摄像机
  • 地图软件花砖和缝合
电子束的决议
  • 3.0 nm @ 30 kV (SE)
  • 3.0 nm @ 30 kV (SE)(低真空)
  • 8.0 nm @ 3 kV (SE)
  • 7.0 nm @ 3 kV (BD模式* +疯牛病)
  • 内部宽度:280毫米
  • 港口:Axia ChemiSEM扫描电子显微镜配置疯牛病和EDS提供5个可用端口
阶段
  • XY: 120 x120毫米
  • 倾斜:-15 + 90度
  • 旋转:n x 360°
  • 删除ZTR轴:
    • Max。样品高度:128毫米
    • Max。样品重量:10公斤
常见的选项
  • 大型TrueSight EDS探测器
  • Quasor-II EBSD
  • ChemiSEM先进的漂移校正技术和量化地图每个元素
  • ChemiView许可证离线EDS数据处理
  • 梁减速模式
  • CleanHeater阶段(1100°C)
  • 阴极发光光子探测器
  • AutoScript 4 Software-Python-based应用程序编程接口
  • 热科学地形图软件图像彩色化,图像分析,三维表面重建
科摩多标签的样式表

资源

按需网络研讨会:满足我们最新的扫描电镜

参加这次研讨会:

  • 发现零点击元素分析,提高可访问性和生产力有现场定量元素成像。
  • 经验的不会过时的灵活性大,支持10公斤样品,和足够的端口来容纳许多配件。
  • 了解如何节省时间与快速跳动,自动校准,和一个简单的接口。

看网络研讨会

ColorCoatings
颜色涂料(硅酸锌)将Ba、Ti、填料和铁痕迹与可伸缩的疯牛病探测器成像。轴向ChemiSEM提供即时访问不同填料的化学变化。(Acc电压20 keV,电子束电流3.6 nA)
阴极:锂电池阴极
所提供的即时定量元素映射Axia ChemiSEM允许突出的存在,Mg和Ti污染物,否则会被忽视。(Acc电压10 keV,电子束电流0.76 nA)
黄铜
铜和镍包覆铜。随着铜和镍原子序数成分类似背散射电子探测器提供的信息不足以澄清层的分布。这些信息,与轴向ChemiSEM一次点击。(Acc电压20 keV,电子束电流0.94 nA)
Drillbit
碳化钨(WC-Co)钻头与钛氮化铝(TiAlN)涂层。不同元素的分布很容易提供的定量元素轴向ChemiSEM成像。(Acc电压15 keV,电子束电流0.85 nA)
镀铬铝合金
镀铬铝合金。样品有一个铜和镍涂层,其差异并不明显,铜和镍原子序数相似,因此,复合的背散射电子探测器提供的信息不足以澄清层的分布。这些信息,与轴向ChemiSEM一次点击。(Acc电压20 keV,电子束电流0.48 nA)
面罩
面罩:纬线程的面罩显示不同的粒子的存在。他们的性质和不同元素的分布(铝、钙、钠、氯、K)很容易辨认由于轴向ChemiSEM提供的即时化学信息。(Acc电压10 keV,电子束电流0.39 nA)
地质剖面
部分地质样品获得结合现场定量元素信息和导航蒙太奇功能。导航蒙太奇允许自动收集多个图像在一个广阔的区域内(在本例中13 * 13帧已经收购了)。由于瞬时轴向ChemiSEM提供的基本信息,蒙太奇显示谷物中的化学变化大的薄片,允许用户确定感兴趣的领域进行进一步分析。
水泥
抛光水泥表面突出一些化学变化,不可见的贡献可伸缩的疯牛病探测器。(Acc电压20 keV,电子束电流0.48 nA)
碳酸盐
钙碳酸盐(碳酸钙)。图像显示了三种不同的多晶型物(霰石、方解石、球霰石)有不同的形态和大小分布。(Acc电压15 keV,电子束电流0.44 nA)
Polycristalline氧化铝(PCA)
Polycristalline氧化铝(PCA)。图像(左):Acc电压2凯文,电子束电流45 pA。图像(右);Acc电压15 keV,电子束电流7.9 pA

下载电子书,SEM和EDS分析行业,了解更多关于:

  • 的联合应用SEM和EDS分析如何支持深入工业应用材料特性表达吗
  • 我们独特的热科学ChemiSEM技术将这两种技术集成为一个快速,易于使用的包,这是新手和专家都可访问的和有价值的吗

下载

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  • 了解如何节省时间与快速跳动,自动校准,和一个简单的接口。

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颜色涂料(硅酸锌)将Ba、Ti、填料和铁痕迹与可伸缩的疯牛病探测器成像。轴向ChemiSEM提供即时访问不同填料的化学变化。(Acc电压20 keV,电子束电流3.6 nA)
阴极:锂电池阴极
所提供的即时定量元素映射Axia ChemiSEM允许突出的存在,Mg和Ti污染物,否则会被忽视。(Acc电压10 keV,电子束电流0.76 nA)
黄铜
铜和镍包覆铜。随着铜和镍原子序数成分类似背散射电子探测器提供的信息不足以澄清层的分布。这些信息,与轴向ChemiSEM一次点击。(Acc电压20 keV,电子束电流0.94 nA)
Drillbit
碳化钨(WC-Co)钻头与钛氮化铝(TiAlN)涂层。不同元素的分布很容易提供的定量元素轴向ChemiSEM成像。(Acc电压15 keV,电子束电流0.85 nA)
镀铬铝合金
镀铬铝合金。样品有一个铜和镍涂层,其差异并不明显,铜和镍原子序数相似,因此,复合的背散射电子探测器提供的信息不足以澄清层的分布。这些信息,与轴向ChemiSEM一次点击。(Acc电压20 keV,电子束电流0.48 nA)
面罩
面罩:纬线程的面罩显示不同的粒子的存在。他们的性质和不同元素的分布(铝、钙、钠、氯、K)很容易辨认由于轴向ChemiSEM提供的即时化学信息。(Acc电压10 keV,电子束电流0.39 nA)
地质剖面
部分地质样品获得结合现场定量元素信息和导航蒙太奇功能。导航蒙太奇允许自动收集多个图像在一个广阔的区域内(在本例中13 * 13帧已经收购了)。由于瞬时轴向ChemiSEM提供的基本信息,蒙太奇显示谷物中的化学变化大的薄片,允许用户确定感兴趣的领域进行进一步分析。
水泥
抛光水泥表面突出一些化学变化,不可见的贡献可伸缩的疯牛病探测器。(Acc电压20 keV,电子束电流0.48 nA)
碳酸盐
钙碳酸盐(碳酸钙)。图像显示了三种不同的多晶型物(霰石、方解石、球霰石)有不同的形态和大小分布。(Acc电压15 keV,电子束电流0.44 nA)
Polycristalline氧化铝(PCA)
Polycristalline氧化铝(PCA)。图像(左):Acc电压2凯文,电子束电流45 pA。图像(右);Acc电压15 keV,电子束电流7.9 pA

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应用程序

过程控制使用电子显微镜

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现代工业需求与优质高吞吐量,平衡,保持健壮的过程控制。SEM和TEM工具与专用自动化软件提供快速、过程监控和改进的多尺度信息。

使用电子显微镜质量控制和故障分析

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质量控制和保证在现代工业中是必不可少的。我们提供一系列EM和光谱学的工具多尺度和多模式分析的缺陷,让你做出可靠的过程控制和改进和明智的决定。

基本材料Research_R& D_Thumb_274x180_144DPI

基本材料研究

新材料研究在越来越小的尺度上进行最大限度的控制他们的物理和化学性质。电子显微镜为研究人员提供了关键洞察各种微-纳米材料特性。


技术

EDS分析ChemiSEM技术

能量色散x射线能谱法对材料特性。

了解更多;

热成像样品

研究材料在现实世界的情况经常需要在高温下工作。再结晶材料的行为,融化,变形或反应的热量可以通过扫描电子显微镜研究了原位或DualBeam工具。

了解更多;

粒子分析

粒子分析起着至关重要的作用在纳米材料研究和质量控制。电子显微镜的纳米级分辨率和优越成像可以结合专业软件快速表征粉末和颗粒。

了解更多;

阴极发光

阴极发光(CL)描述材料的光线发射时激动的电子束。这个信号,捕捉到一个专门的CL探测器,携带的信息样本的组成、晶体缺陷、或光子属性。

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