定量的灵活的电子产品

打破新地面柔性电子元件的发展,咖啡厅:达里奥博士和他的研究小组在米兰理工大学(意大利米兰),采用了奥林巴斯LEXT OLS4100代替扫描电子显微镜(SEM)。作为他们的可靠性测试系统的一部分,共焦激光扫描显微镜提供了有价值的定量信息,反馈优化互连设计方面的几何和制造。此前沿研究查看可用在新的网络应用程序中注意从奥林匹斯山。

灵活的电子设备有丰富的潜在应用,从灵活的手机可穿戴化学传感器。一个设计方法允许这类设备承受变形叠加变形衬底上的电气组件。通过灵活的互连,这些刚性组件连接和咖啡厅博士的研究是寻求优化互连设计,采用原位机械可靠性测试分析设备行为不堪重负。这种方法需要一个高分辨率观测技术,SEM以前,它未能允许精确量化的平面外变形。

取代SEM与奥林巴斯LEXT OLS4100共焦激光扫描显微镜,咖啡厅博士的小组已经受益于许多功能,包括从高度图定量信息和高横向分辨率。的LEXT OLS4100提供高精度光学测量,研究人员现在有定量的证据支持特定的几何图形是如何抗分层,提高设计过程通过一个数值模拟系统。此外,裂纹形成可以在细节,之后,它已经表明,等离子体处理的聚合物,同时增加附着力可能促进开裂。“我印象深刻的是,图像质量,更不用说定量信息,”咖啡厅博士评论说。“简单管理LEXT允许我们关注我们的研究。”

结合奥林巴斯的数码光学显微镜技术与机械测试,奥林巴斯LEXT OLS4100提供的可能性在一个巨大的领域的应用在材料科学的各个方面。