力量中心——AXS赢得100年研发奖XFlash四探测器的x射线微量分析电子显微镜

力量中心——AXS Inc .)选择了Xflash宣布研发杂志^®四探测器2006研发100奖。

研发100年奖项识别技术最重要的产品引入市场在过去的一年。

XFlash四探测器是一个关键组成部分力量的中心——AXS最近宣布QUANTAX™四超快的和敏感的x射线能量色散谱(EDS)系统在电子显微镜显微分析。

XFlash四探测器是四通道40毫米(2)硅漂移探测器对EDS (SDD)。

采用ESPRIT™软件,QUANTAX四旨在提供更快的EDS结果在范围广泛的应用程序。

适用于场发射扫描电子显微镜、环境扫描电子显微镜和低真空。

罗杰·杜斯特博士,执行副总裁兼首席技术官力量中心——AXS,评论说:“力量中心——AXS开创了硅漂移探测器技术的发展。”

“高计数率的独特组合能力和高超的能量分辨率,这些探测器现在广为人知的EDS的新的黄金标准”。

微量分析副总裁托马斯•Schuelein力量中心——AXS,补充说,“新XFLASH四补充我们的证明,行业领先的10到30毫米(2)单通道XFLASH探测器”。

“这是理想的优化计数率较低的电子束电流条件下,使新的分析技术,如光谱成像,更有效的和强大的。”

“同样,QUANTAX EDS客户可以升级到XFlash四在未来,他们的应用程序需要这最高的性能。”

研发100年奖,由一个独立的法官和小组研发的编辑杂志,“提供卓越的标志产业,政府和学术界证明产品是最有创意的想法,”解释了该杂志的主编蒂姆Studt。

2006奖之前研发杂志的100年研发奖去年力量的中心——AXS vantec - 2000 x射线衍射(XRD)检测器分析弱的和/或强烈散射样品,包括最小的样品跟踪,单晶,外延薄膜、涂料、岩石、聚合物、金属、钢材、木材、塑料、液体、纳米材料等等。

力量中心——AXS微量分析科学家们将展示QUANTAX四与XFlash四探测器显微镜和显微分析2006年度会议在芝加哥海军码头7月30日至8月3日622展位。附属的力量光学在附近的展台将展示604年。