通过使用贝叶斯推理更快的x射线荧光分析

组件元素如何未知材料,如陨石,确定吗?x射线荧光分析可以用来识别大量的元素,用x射线和辐射样品光谱分析他们发出,可以同时检测许多元素。出于这个原因,x射线荧光分析已经被用于检测土壤中有毒重金属含量。当前的x射线荧光分析方法需要大约10分钟准确地识别元素,大量的新方法,可以测量或多个未知材料的快速测量。

一个联合研究小组,其中包括博士Tsugufumi松山,Kouichi教授教授,和Masanori Nakae,硕士二年级的学生在大阪城市大学工程学院毕业,从日本原子能机构和研究人员,开发了一种新方法将贝叶斯估计应用于x射线荧光分析。集团成功地减少每测量x射线荧光光谱的测量时间点,从7秒到3 seconds-reducing所需的时间由4秒获得分析结果没有显著不同,获得的光谱测量玻璃标准样品的一个小时。例如,当创建一个元素分布,多达10000的测量可能是,在一个小区域,根据样本。因此,减少测量时间由4秒每点,可以减少总测量时间40000秒约11小时创建一个元素分布。

松山博士说,“我们已经成功地综合分析化学和信息,利用贝叶斯推理应用于x射线荧光分析。还需要进一步的研究来确定是否可以使用这种方法来检测微量的元素。如果我们可以执行快速非破坏性的方式元素分析样品无需接触,这种技术可能是受欢迎的在许多领域,如分析工业产品或废料进行传送带、和监控正在进行的化学反应。”

参考:松山T, Nakae M,村上M,吉田Y,町田M,教授k .频谱预测在x射线荧光分析使用贝叶斯估计。在Spectrosc Spectrochim学报B部分。2023;199:106593。doi:10.1016 / j.sab.2022.106593

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