FEI和Malvern宣布联合开发和营销计划

范公司而且摩文仪器有限公司在FEI的Quanta™扫描电子显微镜(sem)系列上，利用Malvern的粒子图像分析软件，进入了先进纳米颗粒分析的联合开发和营销计划。

该组合提供了一种颗粒分析解决方案，扩展了当前纳米颗粒的分析技术。

FEI的Quanta SEM旨在分析材料，而不施加许多传统的SEM样品制备限制。

马尔文的粒子图像分析软件将为FEI的量子sem进行优化。

该软件包已经用于Malvern系统，包括传统光学显微镜，如Morphologi G2，在世界各地有许多研究和工业用户。

这些系统为质量控制和制造应用提供了关于颗粒尺寸和形态以及产量分布概况的快速数据。

对材料批量变化进行合理化，识别晶体多态性和识别异物只是目前应用的一部分。

FEI全球营销和业务发展副总裁马特·哈里斯(Matt Harris)评论说:“随着产品开发和制造中使用的材料的尺寸不断从微米级向纳米级发展，对超越光学显微镜限制的表征工具的需求越来越大。”

FEI和Malvern技术的结合为越来越多的纳米产品投入生产提供了强大的工艺和质量控制工具。”

Malvern的业务发展总监Duncan Roberts表示:“与FEI的合资企业是一个令人兴奋的发展，因为这是Malvern软件首次应用于另一家公司的仪器设备。”

“光学显微镜已经证明了这一解决方案在FEI系统上的执行，为SEM用户提供了一个强大的新工具。”

捆绑的解决方案将在今年晚些时候发布。它将积极推广给FEI和莫尔文仪器的现有和潜在客户。