范和Nanonics签订合作协议

范公司宣布,它已经进入一个协议与Nanonics成像技术有限公司合作,建立在以色列,探索的可行性将原子力显微镜(AFM)添加到一个范DualBeam™聚焦离子束(FIB) /扫描电子显微镜(SEM)系统。

AFM用于成像,测量和操纵物质在纳米尺度上。它使用机械探针测量样品的表面形貌。DualBeam是无伤大雅的谎言/ SEM系统提供三维(3 d)成像和分析纳米级。DualBeam使用SEM图像FIB-milled横截面,揭示地下特征。