FEI和岛津公司宣布在日本销售协议

FEI公司宣布，它已经选择岛津公司，分析测量和技术系统的开发商，作为日本的销售代理。

岛津公司位于日本京都，将向其在日本的客户销售FEI系统，包括Quanta™和Inspect™扫描电子显微镜(SEM)和Quanta 200 3D小型DualBeam™聚焦离子束/扫描电子显微镜(FIB/SEM)。

FEI全球销售和服务执行副总裁Benjamin Loh表示:“岛津公司是日本分析测量和技术的杰出先驱，我们非常自豪地签署这项协议，他们将为FEI Quanta和Inspect系统在该地区提供销售。”

“我们期待通过岛津完善的分销网络和客户群扩大我们在日本的市场份额。”

岛津分析和测量仪器部门总经理Osamu Ando评论道:“我们认为，将FEI SEM和DualBeam系统添加到我们目前的产品系列中将极大地受益于我们的日本客户，因为他们将有一个来源来满足从基础研究到质量控制的分析测量和成像需求。”

岛津公司提供广泛的表面分析和测量产品，包括电子探针微分析仪，扫描探针显微镜，共聚焦激光扫描显微镜和x射线光电子能谱仪。