FEI Titan™S/TEM实现低千伏里程碑

FEI公司宣布，科学家在欧洲的NanoPort™获得了可解释的TEM图像，其原子分辨率优于1.4 Ångström，在80kV的极低工作电压下，使用Titan™80-300校正S/TEM。

这一结果受到了一些世界领先的研究中心的欢迎，被认为是纳米表征领域的一个重要里程碑，因为现在即使是碳纳米管和石墨烯等轻元素材料也可以在具有最高横向分辨率的同时，以无工件和高对比度的方式成像。

在80kV下获得了各种材料的直接原子分辨率:金纳米粒子、硅和单壁碳纳米管。

最小的原子距离是硅哑铃距离1.36 Ångstrom。

这些发现将在本周在芝加哥举行的显微学与显微分析2006年会议上发表。

团队项目总监Ulrich Dahmen评论道:“我很高兴看到Titan柱在低压端稳定性的证明国家电子显微镜中心在加州伯克利。

“这对TEAM项目来说是个好消息，该项目特别要求在80至300kV的整个工作范围内实现前所未有的分辨率，以应对一系列科学挑战。我认为这是TEAM/FEI合作的一个重要里程碑。”

“在加速电压仅为80千伏的情况下，泰坦仪器的分辨率将使我们能够在以前由于光束敏感性而被排除在高分辨率分析之外的材料类别中获得更深入和更可靠的见解，”来自美国科学院的Joachim Mayer说恩斯特·鲁斯卡电子显微镜和光谱学中心在Juelich研究中心,德国。

“这将包括由硬物质和软物质中的轻元素组成的纳米材料，现在可以以前所未有的对比度和空间分辨率进行研究。”

FEI纳米研究与工业和纳米生物学市场部门高级副总裁Rob Fastenau说:“我们很自豪地向客户承诺，为突破性成果的新时代提供终极性能、稳定性和灵活性。”

“我们之前已经在300kV的电压下创造了世界纪录，现在我们可以在80kV的电压下创造里程碑。”

他补充说:“我很高兴Titan 80-300在整个工作电压范围内显示出直接的原子分辨率。”

“这将使我们有机会进一步加快我们的使命，保持在高分辨率成像和分析领域的世界领先地位，并成为世界不断增长的纳米技术产业的重要推动者。”

这一里程碑式的结果是在配备了像差校正器的Titan 80-300上实现的。

该校正器由ceo有限公司与FEI公司密切合作开发，可显著提高分辨率，并消除通常妨碍直接解释图像的伪影。