艺术提供了最新的EDXRF PEFTEC 2015的解决方案

应用Rigaku Technologies, Inc . (ART)将展示其能量色散x射线荧光(EDXRF)仪表在PEFTEC会展(PEFTEC 2015)于-19年11月18日,2015年在安特卫普,比利时的安特卫普世博会。

事件是分析化学家的关注国际会展,科学家、过程操作符,实验室人员和环境管理者工作在石油、炼油、化工和石化行业。

原油荧光是用于快速非破坏性元素分析,油,汽油,燃料、润滑剂和废料。艺术在展台将展示其行荧光仪器50 #。

台式元素分析中展出的产品将成为新的Rigaku NEX DE优质高性能直接激发荧光元素分析仪和Rigaku NEX QC +高分辨率x荧光光谱仪。

新NEX DE™分析仪为重型工业应用和开发设计最大化的灵活性和易用性。它配备了一个60 kV, 12 W x射线管和先进的珀尔帖效应冷却硅漂移探测器(SDD)元素峰显著提升分辨率和计算统计数据,提供优越的校准和最具挑战性的测量精度。

系统运营的最新Rigaku QuantEZ分析软件,专门设计为Rigaku台式x荧光分析仪的家庭。Microsoft Windows操作系统下运行,笔记本电脑或台式个人电脑(PC),校准所需的软件提供的所有功能和常规操作。

NEX QC +光谱仪是一个紧凑的元素分析仪,可提供快速定量测定钠(na) 11日铀(92 u)在固体,液体,粉末和合金。专门为常规设计质量控制应用程序,NEX QC +功能直观“icon-driven”触摸屏界面和内置打印机操作简单和方便。50 kV x射线管和珀尔帖冷却硅漂移探测器(SDD)提供卓越的可重复性和长期的再现性元素峰决议。

除了台式x荧光分析仪,艺术部门将呈现Rigaku NEX OL x荧光分析仪过程,在线,多元素的分析过程液体包括硫燃料。

50 kV x射线管和珀尔帖冷却硅漂移探测器(SDD) x射线光学也有效的涂膜厚度和元素组成在web和线圈的应用程序。先进的第三代x荧光技术、先进的NEX OL分析仪代表下一个进化液流和固定位置的元素分析web或线圈的应用程序。