力量引入了两个新的电子显微镜分析附件

在显微镜和显微分析2013年会议上,力量引入了两个新的仪器进一步扩大其投资组合的高性能工具材料在电子显微镜表征:

•XSense™是一种新型的平行光束波长色散x射线光谱仪(WDS)元素分析扫描电子显微镜(SEM)。

专门为低能量范围在100年和3600年之间eV, XSense光谱仪提供能量分辨率4 eV,使优秀的密集x射线线分离和高度敏感的微量元素检测。

•XTrace™是一种新的micro-spot x射线源,使photon-induced微x射线荧光(micro-XRF)光谱法在SEM系统中,结合力量的能量色散x射线能谱仪(EDS)探测器。

与electron-excited x射线谱相比常用元素分析扫描电镜,micro-XRF谱提供了低20 - 50倍检测的局限性,特别是在光谱的高中档能量范围,增加检测的能力和分析微量higher-Z元素的示例。

新XSense WDS分析器使用特殊的x射线反射镜光学效率大角度x射线采集和并行化。完全机动使用硬件可靠性系统确保快速、重现性好和稳定的焦斑的定位。

平行光束光学完全可伸缩的和非磁性材料制成的,以避免梁转变和图像失真。选择六衍射晶体,XSense可以调整为几乎所有的应用程序提供最佳条件。其先进的运动学保持最佳定位的活性晶体的x射线在全扫描范围最大衍射效率。

额外的、次要的x射线光学晶体和探测器之间进一步增强了peak-to-background XSense WDS比率和敏感性。力量的独特探测器管理系统主动控制正比计数器的内部气体压力和自动执行所有高压和鉴别器设置。

当连接到一个适当的端口扫描电镜的样品室,新的XTrace使用低功耗micro focus x射线管和聚焦polycapillary x射线光学产生一个高度强烈的x射线辐照样品的尺寸小于40微米。

由于对齐的焦斑打样品表面在同一位置SEM的电子束,分析员可以另外购买电子和photon-induced x射线荧光光谱从相同的样本区域。

而电子x射线光谱提供了高空间分辨率和出色的光元素检测,光子激发XTrace优越的敏感性和允许微量元素检测到10 ppm水平。结合两种技术的信息可以大大提高分析结果的准确性。

XSense WDS分析仪和XTrace微x射线源通过ESPRIT 2.0,力量的新和独特4-in-1无缝地集成了EDS分析软件套件,改进算法、EBSD Micro-XRF在一个用户界面。

ESPRIT 2.0不仅可以直观的导航内部和之间的所有四个互补的方法,而且还提供了各种可能性结合数据来获得更高的精度定量结果。

托马斯•Schulein力量纳米分析部门的主席,说:“这些令人兴奋的新产品的介绍我们现在提供我们的客户前所未有的选择大大提高电子显微镜的分析能力。作为我们QUANTAX微系统的组成部分,nano-analysis新工具都是旨在提高特异性和灵敏度的分析扫描电镜能谱的全部范围。XSense WDS致力于低能量,光元素地区,XTrace特别适用于高中档能量范围显示额外的分析信息。我们很自豪,力量现在唯一供应商提供所有五个技术,EDS,改进算法,EBSD Micro-XRF和ct机,高性能的附加分析电子显微镜。由于完全整合在我们新的ESPRIT 2.0软件套件,研究人员现在可以结合和集成数据获得的这些互补的方法。因此,QUANTAX系统现在已经演变成一个真正的多通道分析工具集对综合材料在电子显微镜表征。”