力量介绍独特的ct机扫描电镜配件

在显微镜和显微分析(M&M) 2012年年会,力量也推出了其新微型电脑断层扫描(CT)附件扫描电子显微镜(SEM)。

ct机扫描电镜可以添加2 d和3 d高分辨率x射线成像能力第三方SEM,允许内部微观结构的无损分析的标本在许多应用程序中,包括复合材料、陶瓷、电子元器件、过滤材料、纸张、木材、植物和许多其他人。

力量的ct机扫描电镜可以被附加到大多数SEM模型而不需要任何修改的显微镜。

系统包含一个微扫描器的目标产生x射线受到电子束时,物体旋转舞台,机动线性阶段改变x射线辐射点和物体之间的距离调整放大的x射线图像。

样品室里的微扫描器可以安装标准对象的持有者。直接检测16位CCD相机是用来记录影子的预测对象的内部微观结构。

典型的曝光时间是2 - 10秒/投影电子束电流的100 - 500 nA。x射线摄影机与512 x512或气冷式和可用1024 x1024像素的分辨率。

SEM是适合分析对象的ct机有4毫米直径和10毫米长度不需要任何特定的准备。

由于非常集中的x射线源,和精密旋转阶段最小步长为0.45°,到400纳米大小的细节可以在3 d可视化。

扫描电镜的ct机提供一个强大的软件套件包括一个收购项目,3 d重建模块,和一个多功能包2 d和3 d数值形态学分析。

此外,程序对3 d渲染可以创建虚拟现实的可视化模型和电影穿越整个样本体积。

托马斯•Schulein力量纳米分析部门的主席,说:“我们正兴奋地承担全球分布这一独特的产品后力量收购SkyScan今年早些时候喷嘴速度。的ct机扫描电镜配件很好地补充力量的现有投资组合为电子显微镜分析工具,使我们的客户能够进行更全面的样本特征在材料研究和生命科学应用程序。”