卡尔蔡司礼物在北京御夫座FIB-SEM紧凑

卡尔蔡司显微镜业务小组展示新御夫座紧凑FIB-SEM中国国际先进材料行业技术和实验室设备(Ciamite)在北京。

系统生成高分辨率的三维图像和分析,使精确的材料加工。

FIB-SEM打开的门3 d-nanoworld横梁技术。

御夫座紧凑各工业部门用于3 d分析和成像,TEM薄板准备、材料处理和nano-structuring。

御夫座紧凑提供杰出的决议,即使在低加速电压,从而实现高分辨率成像的各种标本在所有三个维度。

局部电荷补偿还使导电的artifact-free显示,自充电的样本。御夫座紧凑可以用组合镜头探测器。

除了检测二次电子(SE),确保高地形对比,后向散射电子(enterprise service bus, EsB)基于他们的能量能被探测到。这结果很好的材料对比。

产品经理Ingo Schulmeyer横梁系统卡尔蔡司,很乐观:“御夫座紧凑,卡尔蔡司带给市场一个系统,结合了可靠和先进的横梁技术在一个易于使用的配置。优秀的价值的钱为用户打开了新的机会仅限于SEM成像直到现在。他们现在可以添加三维分析和处理方法的应用范围和证明蔡司质量。”

御夫座紧凑可以扩展众多分析和处理选项,如高端阿特拉斯三维断层扫描包使三维图像的快速捕获堆栈的分辨率高达32 k x 32 k像素。