DELMIC报告自然纳米技术

DELMIC研发和制造产品的重点是高性能、用户友好、集成显微技术的解决方案。Delmic SPARC技术的用户来自斯坦福大学和荷兰的FOM研究所AMOLF使用阴极发光测量纳米级光学断层扫描。

斯坦福大学的工程师和FOM AMOLF研究所,在荷兰,已经开发出一种可视化对象的光学特性是数千倍小于一粒沙子,在3 d和纳米级分辨率使用Delmic的阴极发光检测系统(SPARC)。

设计下一代光学设备从高效太阳能电池板led光学晶体管,工程师需要一个三维图像描绘光线与这些对象在纳米级。

不幸的是,光学特性在纳米尺度上的特征是由于衍射极限的挑战,这是一个固有的限制,传统的光学技术。因此,阴极发光、CL正成为一个越来越受欢迎的技术工程师。

通过结合阴极发光与层析重建方法,有一个独一无二的结合两种技术,使生成的三维地图对象的光学景观nanometre-scale决议。研究人员发表了这一研究在《自然纳米技术。本文演示了如何使用阴极发光断层扫描件轻松事交互的实现纳米尺度的三维可视化重建三维金属电介质新月nanoresonator的光学响应。

CL SPARC被Delmic联合成一个产品,高性能阴极发光检测系统,以及作者在AMOLF阿尔伯特·波尔曼和他的团队。它可以商业化改造的扫描电子显微镜(SEM)。SPARC系统是独特的因为它模块化、灵敏度和重现性。

系统的研究开辟了新的途径,如电子束诱导纳米光子学,但其灵敏度和易用性也可以注入生活更多的“传统”的应用阴极发光等地质和材料科学中找到。