范技术专利UniColore Versa 3 d DualBeam补充道

范公司已经宣布,它增加了专利UniColore (UC)全色盲者电子源,其多功能Versa 3 d™DualBeam™系统。

加州大学技术提高了DualBeam图像精细表面细节的能力较低的加速电压在不影响其分析性能在高电压和电流。

“Versa 3 d现在唯一DualBeam结合的低压成像性能全色盲者FEG源的多功能性和易用性non-immersion物镜,”安德烈Mijiritskii, SEM和DualBeams,产品营销主任范材料科学业务单元。

Mijiritskii继续说道,“因此,它可以提供高分辨率图像的表面细节的广泛的标本,包括绝缘、磁性和轻元素材料和大型或奇怪形状的样品。相同的工具可以提供所需的大电流和电压快速、精确的分析。non-immersion镜头表现良好在更长的工作距离是特别有价值的分析和自动化程序,如连续切片和三维重建和TEM样品制备。”

加州大学源可显著提高成像分辨率较低的加速电压通过减少梁之间的能量分散电子,从而减少色差和许可光束聚焦到样品表面的一个小点。

给定一个足够小的地方,图像分辨率和灵敏度表面细节进一步增强梁的梁在低电压的降低渗透和散射。

低压成像还可以消除充电效应干扰成像在导电材料。

Versa的3 d DualBeam设计一个高度可配置的平台,让客户根据自己特定的需求适应系统的功能。

高真空、低真空和环境扫描电子显微镜(整体)的选项提供覆盖广泛的样本类型和应用程序。

专利的Versa 3 d DualBeam UC全色盲者电子源可以现在订购。

加州大学单色仪性能也可以范的泰坦™透射电子显微镜,麦哲伦™极端的高分辨率扫描电子显微镜,太阳神nonalab™DualBeam™。有关更多信息,请访问http://www.fei.com/versa3d。