范宣布新的Apreo SEM

范宣布了新的Apreo™扫描电子显微镜(SEM),提供一个行业领先的应用范围。从材料和生命科学领域,研究半导体、能源和化学,Apreo提供杰出的多功能性。

“Apreo是专门设计的中档SEM工具的选择。其特性集和易用性应该在列表的顶部为我们研究和工业实验室需要高性能的客户,广泛的多功能性和容易操作在一个广泛的应用程序为用户提供不同级别的专业知识,”特丽莎赖斯说,副总裁和总经理范的材料科学。

研究人员和开发人员需要得到尽可能多的微观信息的样本。他们希望能够看到材料对比,确定化学或晶体样品的属性在一个广泛的样本,是否导体、绝缘体、磁或梁敏感,他们想这样做在一个广泛的条件,包括:高或低真空和在不同倾斜角度。Apreo提供此功能。

由于其专有的复合最后的镜头设计,Apreo SEM的分辨率降至1.0 nm 1 kV不需要梁减速——提供高性能几乎任何样本,即使是倾斜或地形。它提供了后向散射探测束电流最低,在任何倾斜角度,在敏感的样品和TV-rate成像,所以材料对比强烈。探测器部分可以单独解决,它允许研究人员优化角度对比或信号强度和提取最重要的信息。它提供了一个广泛的方法来处理绝缘样品,包括低真空室压力的能力500 Pa。最后,Apreo分析是一个很好的工具,为港口三个能量色散x射线谱(EDS)探测器、共面EDS和电子背散射衍射(EBSD) analytics-compatible低真空,和束电流400 nA。

Apreo软件提供了用户指导和“单击”导航使用一个箱内摄像头,方便甚至新手用户得到优秀的结果。高生产力的实验室会欣赏的能力负荷多个样品快速、轻松地没有工具。