范发射Helios G4 DualBeam系列材料科学

范继续引领行业推出的Helios™G4 DualBeam系列材料科学,提供高度自动化和精确的样品制备透射电子显微镜(TEM)和三维(3 d)样本特征。太阳神G4features范最先进的扫描电子显微镜(SEM)和聚焦离子束(FIB)技术的自动化和易用性上达到一个新的层次。

“我们很高兴地宣布这旗舰DualBeam家庭,这给我们带来更高层次的性能材料科学的客户。太阳神G4配备了新技术来帮助材料科学家获得最高质量地下,纳米尺度的三维信息。DualBeam的新guidedTEM样品制备流程使甚至新手用户快速、轻松地准备高质量、超薄样品为S /透射成像”,特丽莎赖斯,副总裁和总经理范材料科学的业务。

太阳神G4提供了许多创新的改进。一些最重要的包括:

范•最新和最精确的凤凰FIB列,与业界领先的低压性能超低样品损坏,
范•的高分辨率Elstar电子列,加州大学+新技术,提供4 x moremonochromated电流比上一代,
•汽车片&视图为无人值守FIB nanotomography 4.0软件和TEM样品制备的半自动化工作流,两者都提供高质量的结果,比以往更快和更容易。

太阳神G4 DualBeam系列还包括外汇模型——一个灵活的系统,提供了引人注目的sub-three埃阻止决议。外汇模型结合高分辨率成像和样品制备系统,所以结果可在几分钟内获得完成薄板没有把样品从真空,而不是几小时或几天之前需要完成的图像在一个独立的S / TEM系统。

“新列的独特组合技术、软件和控制电子产品帮助支持先进材料表征,”赖斯补充道。“太阳神G4提供了必要的数据多尺度,多模式的工作流,让科学家快速轻松地定位和获取信息的能力。这些新颖的产品改进继续范的旗舰系列DualBeam有别于其他FIB / SEM解决方案在市场上。”