范为更快的Time-to-Analysis金属研究揭示新的解决方案

范宣布两个新产品,加速金属的成像和分析时间研究和工业失效分析实验室。太阳神™PFIB DualBeam™,第一个DualBeam范内的产品组合包括plasma-based聚焦离子束(PFIB),米尔斯的20 - 50倍镓基小谎提供快速、三维(3 d)成像和分析。

的Teneo™扫描电子显微镜(SEM)提供高分辨率,高对比度图像和快速、精确的分析结果,使研究人员能够清楚地解决晶界,很难想象磁性接口和结构/地形和绝缘的样本。

“全球投资金属研究是提高工业、建筑和环境的应用程序,“州特丽莎赖斯,副总裁和总经理范的材料科学。“成功的表征金属和磁性材料需要高分辨率,高对比度图像和快速、精确的分析结果。此外,通过大型轧机的能力很快特性和放大图像和分析多尺度分析细节也很重要,包括连接宏观尺度纳米结构材料的属性。我们新的Helios PFIB DualBeam显著增加铣削速度以及大小的特性,可以研究。”

目前镓基打在传统上被用来准备TEM样品,进行横断面图,并提供3 d分析,但规模有限的由于铣削过程需要的时间,这对大尺度可以很多天。

太阳神PFIB DualBeam可以做同样的工作时间,增加吞吐量和大小的特性,可以研究。除了金属研究,油漆和涂料的分层和分析晶界、薄膜、接口和粘附层潜在应用程序为新Helios PFIB DualBeam。

“不仅仅™PFIB范是第一个产品将等离子体源技术三年前当我们推出了它的单梁FIB先进集成电路的失效分析,“国家大米。“我们理解这一技术和客户的需求详细。我们从我们的经验中获得的知识与单波束工具使我们设计新的DualBeam关键特性,专门解决集成的挑战fast-milling血浆FIB DualBeam系统。”

赖斯说:“我们的新Teneo SEM满足金属研究人员的需要强大的成像技术和高度精确的分析。与此同时,其灵活性和高性能的广泛应用使其多用户实验室的一个优秀的解决方案。”

Teneo SEM包括一个独特的、non-immersion物镜是专门提供高分辨率的磁性材料。在一起,这个镜头和范的三一™检测方案提供高形象对比从各种各样的材料,尤其是磁性材料,合金和复合材料。快速分析功能,包括能量色散谱(EDS)和电子背散射衍射(EBSD),支持大电流和全倾斜90度的阶段。

高度可配置平台包括可选的低真空绝缘的样品成像的能力,如玻璃、陶瓷和聚合物。多用户实验室环境也将受益于Teneo SEM的易用性,例如,大多数用户,无论经验水平,可以利用分步工作流更快地得到有用的结果。