范的新泰坦G2 80 - 200与ChemiSTEM技术使更多的元素的原子光谱分辨率更高

范公司宣布释放泰坦™G2 80 - 200与ChemiSTEM™技术,新成员的泰坦G2的S / TEM(扫描和透射电子显微镜)。

“通过结合泰坦平台与革命的最新一代的电子光学分析ChemiSTEM技术的敏感性,我们已经创建了一个显微镜,可以在几分钟内提供原子分辨率基本地图并添加新功能在解决客户的应用在材料科学,化学和纳米技术,”特丽莎赖斯说,范副总裁和总经理的业务单元的研究。

桑迪亚国家实验室的保罗Kotula博士说,“我们学院范选择了泰坦G2 80 - 200因其创新的结合最新的探究矫正技术和大立体角,无窗silicon-drift x射线探测器(SDD)。我们估计,我们将获得50到100倍的分析灵敏度、速度、和空间分辨率的总和,在我们现有的FEG分析电子显微镜。已经清楚的是,原子分辨率x射线微量分析不仅是可能的,但实际有了这个新的显微镜。一旦域的电子能量损失谱,原子分辨率与x射线微量分析使我们获得更多的元素周期表和可能经常使用现有的量化方法分析许多材料在最高分辨率和灵敏度。

桑迪亚国家实验室将很快收到与ChemiSTEM泰坦G2 80 - 200技术,首次系统被安装在北美。

赖斯继续说道,“这个新显微镜受益所有泰坦G2系列的创新,包括X-FEG高亮度枪和下一代DCOR探头校正器,实现空间分辨率为0.8埃在TEM茎和0.9埃,而仍然保持一个大型,更灵活的工作空间在样本地区,使应用程序要求高倾角标本。例如,这个大tilt-range,当结合ChemiSTEM技术的分布式4-SDD symetrically探测器架构允许EDX断层。因此,有史以来第一次3 d元素组成可获得与标准FIB-prepared薄板样品安装在标准持有人在一个S / TEM。”

80 - 200年泰坦G2非凡的速度和灵敏度分析结果从范专有ChemiSTEM技术,包括X-FEG(一个极稳定的高亮度肖特基FEG来源),高灵敏度Super-X EDX探测器系统(4没有窗户的硅漂移探测器集成深入物镜),和高速电子能力获得100000光谱/秒的映射。

此外,检测效率高ChemiSTEM技术和显微镜的探针电流最高的可用性使原子元素的映射能力,保持整个加速电压200 kV 80千伏,它可以帮助最大化信号,减少样品损伤梁敏感材料。

“由于这些创新,”赖斯说,“这个新显微镜有潜力解决问题在材料科学研究中,曾被困难或无法解决,如分析原子物种极性和原子化学终止接口,测量微量元素浓度低至0.01 wt %,映射在大油田化学成分,并确定在三维空间中元素组成。我们认为80 - 200年泰坦G2 ChemiSTEM技术将实现突破的结果在许多关键应用领域为我们的客户,如催化、冶金、微电子学、发光二极管,和绿色能源材料,等等。”