JEOL引入了新的场发射电子探针

JEOL引入了一个先进的电子探针显微分析仪(电子探针)与热场发射电子枪专门为高分辨率,low-accelerating-voltage微量分析和超高分辨率成像的固体材料。

全自动、高通量微探针,jxa - 8500 f可以同时利用五波长色散x射线光谱仪(WDS)和x射线能谱仪(EDS)定量和定性结合元素分析的亚微米样本地区。

jxa - 8500 f功能Schottky-type场发射枪,产生定位探针直径1/2传统探测器的十分之一,小至40 nm。JXA - 8500 f运行在低加速电压的1到30 kV /电流范围广泛的调查,从10 pa 500 na的探针的稳定性。

能够实现较高的电流探头和探头直径小,特别是在低电压加速,使电子探针适合高精度的极小元素分析分析卷。x射线分析仪使用高灵敏度分析晶体快速制作元素的地图显示多个元素的分布和浓度在一个样本。