JPK仪器启动NanoWizard®3 NanoOptics AFM系统

JPK仪器继续扩大其家族的高性能研究系统的可用性的声明NanoWizard®3 NanoOptics AFM系统。

在过去的十年里,在纳米光学现象发展成为一个令人兴奋的研究领域。研究光在纳米尺度,尤其是与物质的相互作用,研究人员寻找与纳米空间分辨率的方法。

光Microscopy-derived技术和扫描探针显微镜的结合是一个强大的解决方案。这种所谓的近场光学显微镜提供从样品表面sub-wavelength分辨率光学信息。

JPK第一耦合NanoWizard AFM在2003年拉曼光谱仪开始SPM和光学的新篇章。与纳米光学社区,建立良好的人际关系与全球开发商和用户合作使得JPK发展更强大和灵活的系统。

JPK强烈相信技术相结合,特别是与光学AFM。这开辟了一个新的应用领域包括参数/ ser、tip-enhanced荧光,与光纳米操作,化学表面分析和复合检测、超材料,光学活性成分的发展如染料、标记、光源和交换机。

大量用户的出版物强调这项技术的成功方法。现在,JPK介绍他们的最新的AFM和光学平台——NanoWizard3 NanoOptics系统。

的NanoWizard NanoOptics头配有优秀的物理和光学访问样本从顶部和底部以及前部和侧,即使头和冷凝器。此外,它有一个端口为纤维SNOM)应用程序集成。

新系统准备范围广泛的应用程序从纳米级光学成像通过孔径和scattering-type SNOM)实验中光与样品的相互作用如吸收、激发、非线性效应和淬火。

这些包括孔径纤维SNOM实验在一个集成的纤维SNOM港口NanoOptics头和音叉模块允许一站式服务的集成技术。

的NanoWizard3 NanoOptics AFM可用于大量的配置。AFM系统可用于更多的应用程序。也可以界面和运行不同的头如ForceRobot®300年CellHesion®200或使用TopViewOptics™。

一个全面的宣传册可以显示更多的应用领域的例子JPK用户来自世界各地。

JPK开发工程师和制造仪器在德国世界著名的德国标准精密工程,质量和功能。