材料从蔡司显微镜

卡尔蔡司发射Axioskop 2席,常规显微镜吹嘘改善光学功能来满足日益增长的需求由材料科学家。

有两个独特的卡尔蔡司显微镜技术,C-DIC C-TIC,旨在加快样品处理量,减轻操作人员的工作量。C-DIC C-TIC利用圆偏振光允许样本全部,不管他们的取向和不旋转样品阶段。

这将减少所需的时间来检查任何样本和艾滋病的引入自动分析方法。“Axioskop 2垫和这些新的圆偏振光技术提供了精确的测量,快速评估,样品制备,大面积的快速分析标本,和简单的操作,”奥布里兰伯特说,营销经理卡尔蔡司英国。

“这也是一个重要的一步自动例行检查和分析材料的样本。”The Axioskop 2 MAT is available in manual or motorised versions for reflected and transmitted light. On the motorised version, the reflector turret, z-drive, brightness control and switching mirror are all motorised and the nosepiece is coded.

这使得公司的AxioVision软件完全控制显微镜的功能和自动化数字图像采集和分析。卡尔蔡司宣称已经改善了反射光的光路新仪器和精确的成像材料标本与包含增强光陷阱,消除杂散光的反射光的应用程序。

也符合高性能EC-Epiplan-Neofluar材料目标和3200 k色温设置可在触摸一个按钮以确保当获取数字图像色彩保真度。总干涉对比(TIC)精确测量表面形貌、粗糙度和层厚度的精度5µm 20 nm和深度。

尤其有利于薄膜和涂料的开发和生产,同时高度和层厚度的测量步骤也广泛应用于电子、微机电系统、玻璃和陶瓷,和汽车行业。

圆偏振光的使用也使得C-TIC振动不敏感,所以不需要额外的吸收单位。C-DIC(圆形微分干涉对比)是第一个光学偏振技术操作与圆偏振光。上可用Axiovert 200垫的褥子Axioscop显微镜,C-DIC带来直接的工作流的效益和效率。

例如,如果两个结构在直角,只有一个将随时呈现线性DIC。查看第二个结构需要通过90度旋转舞台。C-DIC,两种结构都同时观想,加快吞吐量和协助自动化。