新JEOL大角能量色散谱仪对超速的元素映射的S / TEM样品

JEOL开发了新一代的能量色散谱仪(EDS)对超快,超灵敏的x射线通过分析扫描透射电子显微镜(TEM)。

Centurio从JEOL是一种新型硅漂移探测器(SDD) EDS收集样品的x射线以前所未有的大立体角的0.98球面度检测面积100平方毫米。

固体测量角越大,越EDS收集的数据构造详细分析样品中的元素的地图。

能够有效地收集x射线计数率很高,Centurio速度元素映射元素,提高检测灵敏度没有损失的能量分辨率。

大的像素数量EDS地图可以十倍的利率与先前的EDS设计,与优秀的信噪比。

结合大型探测器电流探针aberration-corrected杆尺寸可以达到的,快速、高效原子分辨率EDS分析是可能的。

自动伸缩式进料侧设计允许快速的重新定位,以避免从反向散射电子辐照。

Centurio成倍扩大JEOL 200千伏的元素映射能力和更高的显微镜,包括JEM-ARM200F与可选的冷原子分辨率TEM场发射枪,和新jem - 2800自动化,高吞吐量,nano-area TEM分析。