新的热科学K-Alpha改进化学检测化学表面特征

热费希尔科学Inc .)宣布推出新版本的热科学K-Alpha x射线光电子能谱仪(XPS)。这充分集成的表面表征工具设计用于满足表面工程师的要求是否在表面化学研究和开发的新工作,或处理常规表征表面、薄膜和涂料。

热科学K-Alpha亮相展台217 2010 AVS第57国际研讨会和展览,17-22 10月,新墨西哥州阿尔伯克基。

原K-Alpha设计为科学家和工程师提供一个新的XPS解决方案通过提供易于操作,并通过热科学的优点之一数据简化工作流系统。最新修订的《获奖K-Alpha平台有相同价值的好处和此外特性改进的光谱性能。进一步增强包括样本观察系统的改进,更好的自动化,和一个新的手套箱选项处理气敏样本。

新仪器集成了总理光谱仪性能与热科学的优点之一的最新版本XPS采集和处理用户界面。这种组合仪表和软件结合了高样品处理量与市场领先的分析性能,对于解决今天的表面复合材料特性的需求分析应用程序。高水平的集成硬件和软件使用户能够校准仪器之间用一个按钮按下,包含完整的可追溯性的系统参数。

的优点之一™数据系统设计提供生产力通过优化工作流程,指导分析师通过数据采集、解释、处理和报告生成。优点之一提供了全数字工具控制,同时提供全方位的XPS谱和图像处理例程。定制的实验室报告模板允许出口分析报告标准的PC应用程序,如Microsoft®Office,点击鼠标。新的优点之一索引器(AI)系统允许管理存储的所有数据集,允许管理元素,化学、采集日期和其他重要参数。