为新TEM阶段装载机XEI科学授予专利

XEI科学公司被授予美国专利5月6日,2014年为一个设备加载TEM样品持有人进入真空室。

XEI已经宣布,该公司已经获得了美国新专利# US8716676B2,描述了一种新的设备加载TEM样品持有人进入真空室。

它是由乔治回历2月发明XEI开发团队。该设备允许TEM样品阶段和持有人容易插入XEI的桌面Evactron®CombiClean™等离子体清洁而不用担心撞的持有人或标本当它进入。它使得Evactron CombiClean an-easier-to-use系统比竞争产品。

设计作为一个完整的清洁解决方案,Evactron CombiClean系统功能集成为桌面清洁真空室和真空部分样品,以及外部激进等离子体源(PRS) Evactron原位清洗的电子束扫描电镜等仪器小谎和其他分析仪器通过消除碳污染。

PRS的系统监控操作单元,内存,以最小的运营商是专为日常操作培训。车载控制允许改变清洗模式之间的内部和外部PRS的翻转开关。这个系统是兼容转动叶片泵没有油返的担心。干燥氮气净化功能保持标本干净后等离子体清洗和存储模式允许用户继续干燥氮气清洗样品外部PRS时使用。

谈到这个激动人心的消息,罗纳德•叶片XEI科学基金会主席说,“这是2013年1月以来第三个专利发给XEI。我们是一个小公司小,利基市场,但它是一个市场,我们创新的领导者。我们有另一个主要专利未决和正在进行的研究的新产品。我们致力于为我们的客户提供更多的新产品领域的现场等离子清洗的高真空系统和电子显微镜的等离子体清洗。”

XEI已售出超过1850 Evactron系统在全球范围内解决污染问题在许多不同的环境中使用电子显微镜等仪器,撒小谎和其他真空样品室。