2014年M&M蔡司带来了新的相关的工作流

蔡司显微镜已经宣布,它将展示其新蔡司横梁聚焦离子束扫描电子显微镜在M&M (FIB-SEM) 2014年8月3 - 7在康涅狄格州哈特福德会展中心CT。

蔡司横梁FIB-SEM使用高束电流增加吞吐量100 nA。铣削时样品电流以前所未有的精度,用户获取和分析图像数据在4频道在同一时间。

横梁有能力检查大油田的50 k x 40 k像素,由于独特的双子座技术和可选的阿特拉斯3 d软件包。

显微镜功能应用程序编程接口(API),给用户更大的灵活性通过访问每一个仪器参数。用户受益于增加吞吐量在微-和nanopatterning应用程序。

蔡司显微镜还将推出一个新的相关显微工具显微镜环境无缝链接。相关软件工作区可以跨多个成像模式,融合数据长度尺度,维度,蔡司的乐器。

演讲将展示阿特拉斯的独特功能无缝链接不同的技术如光和电子显微镜以及x射线显微镜。作为的一部分,蔡司Xradia Versa都可以虚拟演示,突出其无损、高对比度和高分辨率三维成像。

此外,广泛的电子/离子,x射线和光学显微镜为材料研究和工业实验室都可以面对面和虚拟演示在蔡司布斯# 602。