元素的杂质分析制药材料使用x射线荧光光谱法

最近改变美国药典(USP)有关要求元素杂质测试已经见顶的兴趣为执行该测试的新方法。这些新的需求结合引入USP章< 735 > x射线荧光spectrometry1允许一个新的替代方法量化元素杂质的制药原料。

本研究表明,x射线荧光光谱仪光谱法是能够执行元素分析的范围广泛的医药(液体,粉末和固体)材料具有灵敏度高,精密度和准确度的许多元素所需的美国和欧洲药典。样品制备简单、非破坏性分析,没有化学废物、低运营成本和宽动态浓度范围和良好的优良的检测限制这种技术的优势。