EDXRF在药物元素分析中的应用

最近美国药典(USP)关于元素杂质测试要求的变化使人们对执行该测试的新方法产生了极大的兴趣。将这些新要求与USP章节<735> x射线荧光光谱法1的介绍相结合，为定量药品中元素杂质提供了一种新的替代方法。

这项研究表明，x射线荧光(XRF)光谱法能够对广泛的药物(液体、粉末和固体)材料进行元素分析，对美国和欧洲药典所要求的许多元素具有高灵敏度、精度和准确性。样品制备简单，无损分析，无化学废物，低运行成本，宽的动态浓度范围和良好的检测限是该技术的一些优点。